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ソフト詳細説明

1.走査電子顕微鏡をお使い戴く方のためのプログラムです。

以下にその内容を紹介します。

2.走査電子顕微鏡において、電子ビームを試料に照射した場合、照射された電子の試料中での散乱を、モンテ・カルロ法を利用して、摸式的に表示するものです(Single Scattering)。
試料が均一の材質のものの場合と、表面に多層薄膜を持っている場合(但し、この場合は、バルク試料のみ対応)と、2つのプログラムがあります。
3.また、試料(この場合は、純元素より構成される試料)中でのX線の発生分布を、モンテ・カルロ法を利用して、摸式的に表示するものです(Phi-Ro-Z)。
4.更に、試料室が低真空である走査電子顕微鏡において、電子ビームを試料に照射する場合、照射電子が、低真空を構成するガス分子に散乱される様子を、モンテ・カルロ法を利用して、摸式的に表示するものです(N-SEM)。
5.以上4個のメイン・プログラムの他に、上記プログラムを使う上での便利な、本プログラム専用の、幾つかのユーティリティ・プログラムを付属してあります。
6. ソフトウェアーは、全て英文です(日本語版は作成予定はありません)。
但し、日本語・英語の3.1/95の上で、共に問題なく動く筈です。

動作環境